Перечислите и поясните косвенные методы исследования текстуры

Содержание

Аннотация…………………………………………………………………..3

Введение…………………………………………………………………….4

Текстуры в материалах …………………………………………………..6

Текстура конусного волокна…………………………….………………...9

Методы исследования текстур …………………….…………………….10

Исследование текстуры методом магнитной проницаемости........…....10

Исследование текстуры методом измерения предела текучести……...12

Заключение……………………………………………………………..…14

Список литературы……………………………………………………….15

Введение

В процессе производства материалов на определенных этапах их обработки вдоль какого-либо определённого направления достаточно часто формируется преимущественная ориентировка кристаллов, которая называется текстурой. Преимущественные ориентировки возникают при обработке металлов давлением: при прокатке полос или волочении проволоки кристаллическая решетка зерен ориентируется закономерным образом вдоль направления пластического течения материала. Возникает текстура и при рекристаллизации холоднодеформированных металлов (7), причем текстура рекристаллизации часто отлична от текстуры деформации. Возникают текстуры при кристаллизации материалов, выпрессовывании порошков (экструзии), электроосаждении, напылении тонких плёнок и в ряде других случаев. Практический интерес к текстурам связан с тем, что они вызывают анизотропию свойств. Множество работ посвящено исследованию текстур деформации и рекристаллизации в электротехнической анизотропной стали (техническом сплаве Fe-3%Si), поскольку с текстурой связаны уникальные магнитные свойства этого материала. Таким образом, в металлах и сплавах текстура является широко распространенным явлением и возникает при действии на его кристаллы определенным образом направленных внешних или внутренних сил. Экспериментальные методы определения текстуры материалов можно условно подразделить на два типа – методы измерения индивидуальных ориентировок отдельных структурных составляющих и интегральные методы определения текстуры. Каждый из них имеет свои особенности, которые необходимо учитывать при выборе способов определения текстуры для конкретной задачи исследования. В качестве методов измерения индивидуальных ориентировок можно назвать рентгеновский метод получения лауэграмм с зерен более 0,5 мм, метод определения ориентировок в более крупных 4 зернах в оптическом гониометре с помощью так называемых фигур травления, метод электронограмм – определение ориентировок микро- участков в образце в просвечивающем электронном микроскопе и другие. Преимуществом этих методов является их «прицельность», возможность заранее выбирать участок для исследования ориентировки, недостатком при решении определенных задач может быть неадекватная статистическая выборка для характеристики всей текстуры в образце и то, что непосредственно результат эксперимента не отражает информацию об объеме (площади) измеряемого участка структуры. Интегральные методы определения текстуры в материалах включают в себя различные дифракционные методы – рентгеновские, нейтронографические, синхротронного излучения. Общим для всех этих методов является то, что они сразу показывают текстуру в целом для всего облучаемого объема образца, усредняя информацию об ориентировках для отдельных структурных составляющих, причем интенсивность определенной ориентировки пропорциональна ее объему (площади) в облучаемом участке. В зависимости от длины волны излучения и его проникающей способности каждый метод имеет свои особенности. Например, величина облучаемого объема образца в нейтронном дифрактометре во много раз больше, чем в рентгеновском. Это позволяет анализировать очень крупнозернистые образцы, что могло бы быть полезным для быстрого анализа текстуры вторичной рекристаллизации в электротехнической стали, однако усреднение данных о текстуре по всему объему образца делает этот метод нецелесообразным для анализа текстуры прокатки, часто имеющей неоднородное распределение по сечению листа. Активно развивающиеся в последнее время методы текстурного анализа с помощью синхротронного излучения обладают очень высокой чувствительностью и позволяют определять наличие в текстуре слабых компонент, не выявляемых обычными рентге- новскими методами. Повышению чувствительности традиционных рентгеновских методов способствует также использование в рентге- новских дифрактометрах позиционно чувствительных детекторов. 5 В последнее время становится все более актуальной задача получения общей взаимоувязанной информации по структуре и ориентировке материала. Решению этой задачи способствуют появившиеся в последние годы методы получения «ориентационного изображения» структуры материала с помощью компьютерного анализа картин каналирования электронов в сканирующем или просвечивающем микроскопе. При этом на экране монитора получается цветное изображение структуры, содержащее в себе информацию об ориентировке в каждой точке структуры. Обработкой результатов можно получить информацию о текстуре любого заданного участка образца или образца в целом.